LZ-PIN 50113: Unterschied zwischen den Versionen
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|Beschreibung-DE=das Problem der Fehlerinflation beim multiplen Testen | |Beschreibung-DE=das Problem der Fehlerinflation beim multiplen Testen | ||
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|Domäne=D-PIN 8 | |Domäne=D-PIN 8 | ||
|Thema=LT-PIN 2056 | |Thema=LT-PIN 2056 | ||
| | |Katalog=Biometrie-2021 | ||
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Version vom 20. September 2022, 09:12 Uhr
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Learning Objective (LO)
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subordinate Learning Objectives to LZ-PIN 50113
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