LZ-PIN 50113

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Learning Objective (LO)

Catalogue Biometrie-2021
Domain D-PIN 8 | Induktive Statistik
LO-ID 113
LO-Text (De) das Problem der Fehlerinflation beim multiplen Testen
LO-Text (En) the problem of error inflation in multiple testing
Level 1 benennen
Level 2
Level 3
Level 4
Topic LT-PIN 2056 | Multiples Testen
Role
Didactic Note Beispiele für Anwendungsbereiche erwähnen (Zwischenauswertungen, mehrere primäre Endpunkte etc.); "Fishing for Significance-Problematik"
Entry in Glossary
Higher Level LO
Sources of this LO


subordinate Learning Objectives to LZ-PIN 50113