LT-PIN 2052
Learning Topic (LO)
| Catalogue | Biometrie-2021 | Lernzielkatalog Medizinische Biometrie für das Studium der Humanmendizin |
|---|---|
| Domäne | D-PIN 8 | Induktive Statistik |
| Toplevel Topic | |
| Parent Topic | LT-PIN 2045 | 4.2 (Prinzip des statistischen Testens) |
| Topic-ID | 4.2.7 |
| Name-DE | Teststatistik und ihre Verteilung |
| Name-EN |
Learning Objectives of this Topic
| LO-ID | Domain | Beschreibung | Niveau 1 | Niveau 2 | Niveau 3 | Niveau 4 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| LZ-PIN 50106 | 106 | 4_induktive | die Begriffe Teststatistik und ihre Verteilung | name | |||
| LZ-PIN 50107 | 107 | 4_induktive | den Begriff kritischer Wert | explain |