LZ-PIN 50114

For a guide to this page see Help:Learning Objective Page.

Learning Objective (LO)

Catalogue	Biometrie-2021
Domain	D-PIN 8 \| Induktive Statistik
LO-ID	114
LO-Text (De)	Verfahren zur Korrektur von Fehlerinflation beim multiplen Testen
LO-Text (En)	procedures to correct for error inflation in multiple testing
Level 1
Level 2	anwenden
Level 3
Level 4
Topic	LT-PIN 2056 \| Multiples Testen
Role
Didactic Note	z.B. Bonferroni-Verfahren; Hinweis auf weitere Verfahren zur Korrektur; Hinweis auf möglichen Powerverlust bei Anwendung von Korrekturverfahren
Entry in Glossary
Higher Level LO
Sources of this LO