LZ-PIN 50114: Unterschied zwischen den Versionen

Aus HI-LONa
Zur Navigation springen Zur Suche springen
VisuellWikitext
K (Textersetzung - „$“ durch „;“)
(CSV-Import)
 
Zeile 1: Zeile 1:
{{Lernziel
{{Lernziel
|LZ-ID=114
|LZ-ID=114
|Beschreibung-DE=Verfahren zur Korrektur von Fehlerinflation beim multiplen Testen  
|Beschreibung-DE=Verfahren zur Korrektur von Fehlerinflation beim multiplen Testen
|Kompetenzniveau in Level 2=anwenden
|Kompetenzniveau in Level 2=anwenden
|Katalog=Biometrie-2021
|Katalog=Biometrie-2021
|Domäne=D-PIN 8
|Domäne=D-PIN 8
|Thema=LT-PIN 2056
|Thema=LT-PIN 2056
|Anmerkung= z.B. Bonferroni-Verfahren; Hinweis auf weitere Verfahren zur Korrektur; Hinweis auf möglichen Powerverlust bei Anwendung von Korrekturverfahren
|Anmerkung=z.B. Bonferroni-Verfahren; Hinweis auf weitere Verfahren zur Korrektur; Hinweis auf möglichen Powerverlust bei Anwendung von Korrekturverfahren
|Beschreibung-EN=procedures to correct for error inflation in multiple testing
}}
{{
}}
}}
{{}}

Aktuelle Version vom 17. Januar 2023, 16:42 Uhr

For a guide to this page see Help:Learning Objective Page.

Learning Objective (LO)

Catalogue Biometrie-2021
Domain D-PIN 8 | Induktive Statistik
LO-ID 114
LO-Text (De) Verfahren zur Korrektur von Fehlerinflation beim multiplen Testen
LO-Text (En) procedures to correct for error inflation in multiple testing
Level 1
Level 2 anwenden
Level 3
Level 4
Topic LT-PIN 2056 | Multiples Testen
Role
Didactic Note z.B. Bonferroni-Verfahren; Hinweis auf weitere Verfahren zur Korrektur; Hinweis auf möglichen Powerverlust bei Anwendung von Korrekturverfahren
Entry in Glossary
Higher Level LO
Sources of this LO


subordinate Learning Objectives to LZ-PIN 50114



{{ }}

Abgerufen von „http://hilona.de/index.php?title=LZ-PIN_50114&oldid=13439“