LZ-PIN 50114: Unterschied zwischen den Versionen
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|LZ-ID=114 | |LZ-ID=114 | ||
|Beschreibung-DE=Verfahren zur Korrektur von Fehlerinflation beim multiplen Testen | |Beschreibung-DE=Verfahren zur Korrektur von Fehlerinflation beim multiplen Testen | ||
|Kompetenzniveau in Level 2=anwenden | |Kompetenzniveau in Level 2=anwenden | ||
|Katalog=Biometrie-2021 | |Katalog=Biometrie-2021 | ||
|Domäne=D-PIN 8 | |Domäne=D-PIN 8 | ||
|Thema=LT-PIN 2056 | |Thema=LT-PIN 2056 | ||
|Anmerkung= z.B. Bonferroni-Verfahren; Hinweis auf weitere Verfahren zur Korrektur; Hinweis auf möglichen Powerverlust bei Anwendung von Korrekturverfahren | |Anmerkung=z.B. Bonferroni-Verfahren; Hinweis auf weitere Verfahren zur Korrektur; Hinweis auf möglichen Powerverlust bei Anwendung von Korrekturverfahren | ||
|Beschreibung-EN=procedures to correct for error inflation in multiple testing | |||
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Aktuelle Version vom 17. Januar 2023, 16:42 Uhr
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Learning Objective (LO)
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subordinate Learning Objectives to LZ-PIN 50114
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Version Steps leading to LZ-PIN 50114
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