LZ-PIN 50114: Unterschied zwischen den Versionen

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Version vom 20. September 2022, 09:19 Uhr

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Learning Objective (LO)

Catalogue Biometrie-2021
Domain D-PIN 8 | Induktive Statistik
LO-ID 114
LO-Text (De) Verfahren zur Korrektur von Fehlerinflation beim multiplen Testen
LO-Text (En)
Level 1
Level 2 anwenden
Level 3
Level 4
Topic LT-PIN 2056 | Multiples Testen
Role
Didactic Note z.B. Bonferroni-Verfahren; Hinweis auf weitere Verfahren zur Korrektur; Hinweis auf möglichen Powerverlust bei Anwendung von Korrekturverfahren
Entry in Glossary
Higher Level LO
Sources of this LO


subordinate Learning Objectives to LZ-PIN 50114



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