LT-PIN 2056
Learning Topic (LO)
| Catalogue | Biometrie-2021 | Lernzielkatalog Medizinische Biometrie für das Studium der Humanmendizin |
|---|---|
| Domäne | D-PIN 8 | Induktive Statistik |
| Toplevel Topic | |
| Parent Topic | LT-PIN 2045 | 4.2 (Prinzip des statistischen Testens) |
| Topic-ID | 4.2.11 |
| Name-DE | Multiples Testen |
| Name-EN |
Learning Objectives of this Topic
| LO-ID | Domain | Beschreibung | Niveau 1 | Niveau 2 | Niveau 3 | Niveau 4 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| LZ-PIN 50113 | 113 | 4_induktive | das Problem der Fehlerinflation beim multiplen Testen | name | |||
| LZ-PIN 50114 | 114 | 4_induktive | Verfahren zur Korrektur von Fehlerinflation beim multiplen Testen | apply |