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Learning Objective (LO)
| Catalogue
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Biometrie-2021
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| Domain
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D-PIN 8 |
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| LO-ID
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114
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| LO-Text (De)
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Verfahren zur Korrektur von Fehlerinflation beim multiplen Testen
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| LO-Text (En)
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| Verb in Niveau 1
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| Verb in Niveau 2
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anwenden
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| Verb in Niveau 3
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| Verb in Niveau 4
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| Topic
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LT-PIN 2056 | Multiples Testen
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| Role
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| Didactic Note
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z.B. Bonferroni-Verfahren$ Hinweis auf weitere Verfahren zur Korrektur$ Hinweis auf möglichen Powerverlust bei Anwendung von Korrekturverfahren
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| Entry in Glossary
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| Higher Level LO
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| Step to this LO
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subordinate Learning Objectives to LZ-PIN 50114
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Version Steps leading to LZ-PIN 50114
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Version Steps that follow LZ-PIN 50114
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Create a Version Step from LZ-PIN 50114 to a new Learning Objective
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